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《仕様》●測定方式：電磁誘導式●測定対象：磁性体上の非磁性被膜●測定範囲：0〜2500μmまたは99.0mils●測定精度：50μm未満／±1μm、50μm以上1000μm未満／±2％、1000μm以上／±3％●分解能：100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm●適合規格：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401／ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840／BS 3900-C5／ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376●データメモリ数：約39,000点●検量線メモリ：アプリケーションメモリ／100本の検量線を記憶●プローブ：一点接触定圧式（LEP-J）●表示方法：デジタル（バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm）●外部出力：パソコン（USBまたはRS-232C）●電源：電池1.5V（単3アルカリ）×4●消費電力：80mW（バックライト非点灯時）●電池寿命：100時間（バックライト非点灯時、連続使用）●使用温度範囲：0〜40℃●付加機能：各種機能16種●寸法・質量：75（W）×145（D）×31（H）mm、0.34Kg●メーカー名：ケット科学研究所《特長》●LE-373は磁性体上のメッキ（電解ニッケルメッキは除く）・塗装などの被膜厚を測定する膜厚計です。

コンピュータにデータを転送することができ、検量線メモリ、測定データメモリ、上下限設定、統計処理など、16種の機能を装備しています。

測定スタンド、外部出力ケーブルなどオプションも充実しています。

●LE-373は磁性金属上のメッキ（電解ニッケルメッキは除く）や塗装などの非磁性被膜厚を測定する膜厚計です。

LH-373は非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計で、アルマイトなどの比較的に薄い被膜厚を測定することができます。

LZ-373は磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。

膜厚計373シリーズは多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適です。

どのモデルもコンピュータにデータを転送することができ、アプリケーション（検量線）メモリ機能、測定データ・メモリ、膜厚管理の上下限値設定、簡単な統計処理、データ出力など16種の機能を装備しています。

●小型・軽量のコンパクトボディ。

大きさは幅75mm、長さ145mm、厚さ31mm、質量340g。

片手に入る大きさですから、測定現場でも手軽に使用できます。

●多機能を搭載。

通常の膜厚管理で必要とする機能を網羅し装備しています。

アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算（測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値）、表示選択、日付・時刻、自動Off時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモードなどの16機能を必要に応じ設定することが可能です。

●オプションも充実。

オプションの測定スタンドLW-990を利用すると、パイプなどの測りにくい曲面の測定が容易になり、また通常の平面の測定でも繰り返し誤差や個人誤差を最小に押さえ込むことができます。

また、データ管理ソフトウェアの「データロガーLDL-03」や、「McWAVEシリーズ」をご利用いただくことで、データをMSExcel形式で保存したり、測定データの編集や各種管理図の作成も可能となります。

●付属品：標準板セット、標準板ケース、鉄素地（FE-373）、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V（単3アルカリ）×4●オプション：標準板（付属品以外の厚さ）、測定スタンドLW-990、パソコンケーブル、RS-232C-USBケーブル、データ管理ソフト/「データロガー LDL-03」